低频介电常数介质损耗测试仪

概述GDAT-S是具有多种功能和更高测试频率的新型阻抗分析仪，体积小，紧凑便携，便于上架使用。本系列仪器基本精度为0.05%，测试频率87高1MHz及10Hz的分辨率，4.3寸的LCD屏幕配合中英文操作界面，操作方便简洁。集成了变压器测试功能、平衡测试功能,提高了测试效率。仪器提供了丰富的接口，能满足自动分选测试，数据传输和保存的各种要求。

低频介电常数介质损耗测试仪

性能特点4.3寸TFT液晶显示中英文可选操作界面87高1Hz的测试频率，10Hz分辨率

平衡测试功能变压器参数测试功能87高测试速度:13s/次电压或电流的自动电平调整（ALC）功能V、I 测试信号电平监视功能内部自带直流偏置源可外接大电流直流偏置源10点列表扫描测试功能30Ω、50Ω、100Ω可选内阻内建比较器，10档分选和计数功能内部文件存储和外部U盘文件保存测量数据可直接保存到U盘RS232C、 USB 、LAN、HANDLER、GPIB、DCI接口

面板介绍GDAT-S前面板简介商标及型号：仪器商标及型号[COPY]键：图片保存键，保存测试结果图片到USB 存储器。[EAS]菜单键：按[EAS]键，进入仪表测量功能相应的测试显示页面。[SETUP]菜单键：按[SETUP]键，进入仪表功能设置和相应的测试设置页面。

二电极短路.按软键 短路全频清零，将对全部的短路寄生阻抗（电阻和电抗）进行测量。短路全频校正大约需要75 秒的时间。 在短路全频校正过程中，屏幕显示下面软键。

该软键可中止当前的短路校正测试操作。保留原来的短路校正数据不变。

键 DCR 开路，将进行直流电阻功能下开路电阻的测量。按软键 开 , 使开路校正有效，将在以后的测试过程中进行开路校正计算。如果频率1，频率2。设置为OFF, 开路校正计算采用插入法所计算出的当前频率的开路校正数据。如果频率1，频率2 设置为ON, 同时当前测试频率等于频

息。

按主菜单键后相应显示的页面[EAS] 键LCR测量功能时，用于进入元件测量显示页面。主要关于电容、电阻、电感、阻抗测量功能菜单的起始按键，这部分的功能页面有（使用“软键”选择下述页面功能，下同）：<测量